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硬盤(pán)專業(yè)檢測(cè)維修軟件MHDD使用方法

我要評(píng)論 2010/07/11 15:25:42 來(lái)源:綠色資源網(wǎng) 編輯:綠色軟件站 [ ] 評(píng)論:0 點(diǎn)擊:541次

  1、MHDD是俄羅斯Maysoft公司出品的專業(yè)硬盤(pán)工具軟件,具有很多其他硬盤(pán)工具軟件所無(wú)法比擬的強(qiáng)大功能,它分為免費(fèi)版和收費(fèi)的完整版,本文介紹的是免費(fèi)版的詳細(xì)用法。
  2、MHDD無(wú)論以CHS還是以LBA模式,都可以訪問(wèn)到128G的超大容量硬盤(pán)(可訪問(wèn)的扇區(qū)范圍從512到137438953472),即使你用的是286電腦,無(wú)需BIOS支持,也無(wú)需任何中斷支持;
  3、MHDD最好在純DOS環(huán)境下運(yùn)行;
  4、MHDD可以不依賴于主板BIOS直接訪問(wèn)IDE口,但要注意不要使用原裝Intel品牌主板;
  5、不要在要檢測(cè)的硬盤(pán)中運(yùn)行MHDD;
  6、MDD在運(yùn)行時(shí)需要記錄數(shù)據(jù),因此不能在被寫(xiě)保護(hù)了的存儲(chǔ)設(shè)備中運(yùn)行(比如寫(xiě)保護(hù)的軟盤(pán)、光盤(pán)等);
  MHDD命令詳解
  EXIT(熱鍵Alt+X):退出到DOS。
  ID:硬盤(pán)檢測(cè),包括硬盤(pán)容量、磁頭數(shù)、扇區(qū)數(shù)、SN序列號(hào)、Firmware固件版本號(hào)、LBA數(shù)值、支持的DM*****別、是否支持HPA、是否支持AAM、SMART開(kāi)關(guān)狀態(tài)、安全模式級(jí)別及開(kāi)關(guān)狀態(tài)……等)。
  INIT:硬盤(pán)初始化,包括Device Reset(硬盤(pán)重置)、Setting Drive Parameters(設(shè)定硬盤(pán)參數(shù))、Recalibrate(重校準(zhǔn))。
  I(熱鍵F2):同時(shí)執(zhí)行ID命令和INIT命令。
  ERASE:快速刪除功能,每個(gè)刪除單位等于255個(gè)扇區(qū)(數(shù)據(jù)恢復(fù)無(wú)效)。
  AERASE:高級(jí)刪除功能,可以將指定扇區(qū)段內(nèi)的數(shù)據(jù)逐扇區(qū)地徹底刪除(比ERASE慢,數(shù)據(jù)恢復(fù)同樣無(wú)效),每個(gè)刪除單位等于1個(gè)扇區(qū)。
  HPA:硬盤(pán)容量剪切功能,可以減少硬盤(pán)的容量,使BIOS檢測(cè)容量減少,但DM之類(lèi)的獨(dú)立于BIOS檢測(cè)硬盤(pán)容量的軟件仍會(huì)顯示出硬盤(pán)原始容量。
  NHPA:將硬盤(pán)容量恢復(fù)為真實(shí)容量。
  RHPA:忽略容量剪切,顯示硬盤(pán)的真實(shí)容量。
  CLS:清屏。
  PWD:給硬盤(pán)加USER密碼,最多32位,什么也不輸入表示取消。被鎖的硬盤(pán)完全無(wú)法讀寫(xiě),低格、分區(qū)等一切讀寫(xiě)操作都無(wú)效。如果加密碼成功,按F2鍵后可以看到Security一項(xiàng)后面有紅色的ON。要注意,設(shè)置完密碼后必須關(guān)閉電源后在開(kāi)機(jī)才會(huì)使密碼起作用;
  UNLOCK:對(duì)硬盤(pán)解鎖。先選擇0(USER),再正確輸入密碼。注意:選擇1(Master)無(wú)法解開(kāi)密碼。
  DISPWD:解除密碼,先選擇0(USER),再正確輸入密碼。在用DISPWD之前必須先用UNLOCK命令解鎖。要注意,除了用UNLOCK和DISPWD命令可以解密碼之外,沒(méi)有任何辦法可以解鎖。而且一旦將密碼遺忘(或輸入錯(cuò)誤),也沒(méi)有任何辦法可以解鎖。如果解密碼成功,按F2鍵后可以看到Security一項(xiàng)后面有灰色的OFF。注意:選擇1(Master)無(wú)法解開(kāi)密碼。
  RPM:硬盤(pán)轉(zhuǎn)速度量(非常不準(zhǔn),每次測(cè)量數(shù)值都不同)。
  TOF:為指定的扇區(qū)段建立映像文件(最大2G)。
  FF:從映像文件(最大2G)恢復(fù)為扇區(qū)段。
  AAM:自動(dòng)噪音管理??梢杂肁AM(自動(dòng)噪音管理)命令“所聽(tīng)即所得”式的調(diào)節(jié)硬盤(pán)的噪音。按F2鍵后如果有AAM字樣,就表示硬盤(pán)支持噪音調(diào)節(jié)。鍵入AAM命令后,會(huì)顯示出當(dāng)前硬盤(pán)的噪音級(jí)別,并且可以馬上就聽(tīng)到硬盤(pán)的讀寫(xiě)噪音,要注意硬盤(pán)的噪音和性能是成正比的,噪音越大,性能越高,反之亦然。進(jìn)入AAM命令后,按0鍵可以關(guān)閉AAM功能,按M鍵可以將噪音調(diào)至最小(性能最低),按P鍵可以將噪音調(diào)至最大(性能最高),按+加號(hào)和-減號(hào)可以自由調(diào)整硬盤(pán)的噪音值(數(shù)值范圍從0到126),按L鍵可以獲得噪音和性能的中間值(對(duì)某些硬盤(pán)如果按+加號(hào)和-減號(hào)無(wú)效,而又不想讓噪音級(jí)別為最大或最小,可以按L鍵取噪音中間值),按D鍵表示關(guān)閉AAM功能,按ENTER鍵表示調(diào)整結(jié)束;
  FDISK:快速地將硬盤(pán)用FAT32格式分為一個(gè)區(qū)(其實(shí)只是寫(xiě)入了一個(gè)MBR主引導(dǎo)記錄),并設(shè)為激活,但要使用還需用FORMAT完全格式化。
  SMART:顯示SMART參數(shù),并可以對(duì)SMART進(jìn)行各項(xiàng)相關(guān)操作。SMART ON可以開(kāi)啟SMART功能,SMART OFF可以關(guān)閉SMART功能,SMART TEST可以對(duì)SMART進(jìn)行檢測(cè)。
  PORT(熱鍵Shift+F3):顯示各IDE口上的硬盤(pán),按相應(yīng)的數(shù)字即可選擇相應(yīng)口的硬盤(pán),之后該口會(huì)被記錄在/CFG目錄下的MHDD.CFG文件中,1表示IDE1口主,2表示IDE1口從,3表示IDE2口主,4表示IDE2口從,下次再進(jìn)入MHDD后此口就成了默認(rèn)口,編輯MHDD.CFG文件改變?cè)撝稻涂梢愿淖僊HDD默認(rèn)的檢測(cè)端口。所以,如果進(jìn)入MHDD后按F2提示Disk Not Ready,就說(shuō)明當(dāng)前硬盤(pán)沒(méi)有接在上次MHDD默認(rèn)的那個(gè)口上,此時(shí)可以使用PORT命令重新選擇硬盤(pán)(或更改MHDD.CFG文件)。
  CX:對(duì)昆騰CX和LCT(包括LA、LB、LC)系列硬盤(pán)進(jìn)行尋道測(cè)試,可以考驗(yàn)這兩類(lèi)硬盤(pán)上的飛利浦TDA5247芯片的穩(wěn)定性(因?yàn)橘|(zhì)量不好的5247芯片在頻繁尋道時(shí)最容易露出馬腳)。按ESC鍵停止。此命令也可用在其他硬盤(pán)上,它主要通過(guò)頻繁隨機(jī)尋道來(lái)提升硬盤(pán)電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片的溫度,從而測(cè)試硬盤(pán)在強(qiáng)負(fù)荷下的穩(wěn)定性。
  WAIT:等待硬盤(pán)就位。
  STOP(熱鍵Shift+F4):關(guān)閉硬盤(pán)馬達(dá)。
  IBME:查看IBM硬盤(pán)缺陷表(P-LIST)。此時(shí)要記錄大量數(shù)據(jù),缺陷表越大,生成的文件(在IBMLST目錄下)越大,如果MHDD存在軟盤(pán)上的話,有可能會(huì)空間不足;
  FUJLST:查看富士通硬盤(pán)缺陷表(P-LIST)。此時(shí)要記錄大量數(shù)據(jù),缺陷表越大,生成的文件(在FUJLST目錄下)越大,如果MHDD存在軟盤(pán)上的話,有可能會(huì)空間不足;
  MAKEBAD:人為地在某個(gè)指定區(qū)域內(nèi)制造壞道。注意,由它生成的壞道很難修復(fù)。
  RANDOMBAD:隨機(jī)地在硬盤(pán)的各個(gè)地方生成壞道,按ESC鍵停止生成。注意,由它生成的壞道很難修復(fù)。
  BATCH(熱鍵F5):批處理。
  R(熱鍵F3):硬盤(pán)復(fù)位。比如使用了PWD加密碼后,為了使密碼馬上生效,可以用此命令。
  *****FUJ、KILLFUJ、AKILLFUJ:都是刻意破壞富士通硬盤(pán)的命令,一定謹(jǐn)慎使用,否則硬盤(pán)將被徹底損壞,無(wú)法修復(fù)。某一切正常的富士通硬盤(pán),在使用*****FUJ命令后,僅一、兩秒種,就提示破壞成功,重新啟動(dòng)后,連自檢動(dòng)作都消失了,主板檢測(cè)不到,硬盤(pán)徹底報(bào)廢。
  SCAN(熱鍵F4):盤(pán)面掃描,可以用特定模式來(lái)修復(fù)壞扇區(qū),其中:
  [Scan in: CHS/LBA]:以CHS或LBA模式掃描。CHS只對(duì)500M以下的老硬盤(pán)有效。
  [Starting CYL]:設(shè)定開(kāi)始掃描的柱面。
  [Starting LBA]:設(shè)定開(kāi)始掃描的LBA值。
  [Log: On/Off]:是否寫(xiě)入日志文件。
  [Remap: On/Off](重新映像):是否修復(fù)壞扇區(qū)。
  [Ending CYL]:設(shè)定終止掃描的柱面
  [Ending LBA]:設(shè)定終止掃描的LBA值。
  [Timeout(sec)]:設(shè)定超時(shí)值,從1到200,默認(rèn)值為30。
  [Advanced LBA log](高級(jí)LBA日志):此項(xiàng)不支持。
  [Standby after scan]:掃描結(jié)束后關(guān)閉硬盤(pán)馬達(dá),這樣即可使SCAN掃描結(jié)束后,硬盤(pán)能夠自動(dòng)切斷供電,但主機(jī)還是加電的(屬于無(wú)人職守功能)。
  [Loop the test/repair]:循環(huán)檢測(cè)和修復(fù),主要用于反復(fù)地修復(fù)頑固型壞道。
  [Erase WAITs](刪除等待):此項(xiàng)主要用于修復(fù)壞道,而且修復(fù)效果要比REMAP更為理想,尤其對(duì)IBM硬盤(pán)的壞道最為奏效,但要注意被修復(fù)的地方的數(shù)據(jù)是要被破壞的(因?yàn)镋rase WAITS的每個(gè)刪除單位是255個(gè)扇區(qū))。Erase WAITS的時(shí)間默認(rèn)為250毫秒,數(shù)值可設(shè)置范圍從10到10000。要想設(shè)置默認(rèn)時(shí)間,可以打開(kāi)/CFG目錄下的MHDD.CFG文件,修改相應(yīng)項(xiàng)目即可更改Erase WAITS數(shù)值。此數(shù)值主要用來(lái)設(shè)定MHDD確定壞道的讀取時(shí)間值(即讀取某扇區(qū)塊時(shí)如果讀取時(shí)間達(dá)到或超過(guò)該數(shù)值,就認(rèn)為該塊為壞道,并開(kāi)始試圖修復(fù)),一般情況下,不必更改此數(shù)值,否則會(huì)影響壞道的界定和修復(fù)效果。
  屏幕第一行的左半部分為為狀態(tài)寄存器,右半部分為錯(cuò)誤寄存器;在屏幕第一行的中間(在BUSY和AMNF之間)有一段空白區(qū)域,如果硬盤(pán)被加了密碼,此處會(huì)顯示PWD;如果硬盤(pán)用HPA做了剪切,此處會(huì)顯示HPA;
  屏幕第二行的左半部分為當(dāng)前硬盤(pán)的物理參數(shù),右半部分為當(dāng)前正在掃描的位置;
  屏幕右下角為計(jì)時(shí)器,Start表示開(kāi)始掃描的時(shí)間,Time表示已消耗的時(shí)間,End表示預(yù)計(jì)結(jié)束的時(shí)間,結(jié)束后會(huì)再顯示Time Count,表示總共耗費(fèi)了多長(zhǎng)的時(shí)間;
  在掃描時(shí),每個(gè)長(zhǎng)方塊代表255個(gè)扇區(qū)(在LBA模式下)或代表63個(gè)扇區(qū)(在CHS模式下);
  掃描過(guò)程可隨時(shí)按ESC鍵終止;
  方塊從上到下依次表示從正常到異常,讀寫(xiě)速度由快到慢。正常情況下,應(yīng)該只出現(xiàn)第一個(gè)和第二個(gè)灰色方塊;
  如果出現(xiàn)淺灰色方塊(第三個(gè)方塊),則代表該處讀取耗時(shí)較多;
  如果出現(xiàn)綠色和褐色方塊(第三個(gè)和第四個(gè)方塊),則代表此處讀取異常,但還未產(chǎn)生壞道;
  如果出現(xiàn)紅色方塊(第六個(gè),即最后一個(gè)方塊),則代表此處讀取吃力,馬上就要產(chǎn)生壞道;
  如果出現(xiàn)問(wèn)號(hào)?,則表示此處讀取錯(cuò)誤,有嚴(yán)重物理壞道,無(wú)法修復(fù)。
  注1:有些讀寫(xiě)速度奇慢的硬盤(pán)如果用MHDD的F4 SCAN掃描并把EraseWAITS打開(kāi)就可以看到,要么均勻分布著很多W,要么就是遍布著很多五顏六色的方塊,這說(shuō)明這類(lèi)硬盤(pán)之所以讀寫(xiě)速度奇慢,就是因?yàn)榇罅康谋P(pán)片扇區(qū)有瑕疵,造成讀寫(xiě)每個(gè)扇區(qū)都會(huì)耗費(fèi)較長(zhǎng)的時(shí)間,綜合到一起就導(dǎo)致了整個(gè)硬盤(pán)讀寫(xiě)速度奇慢。
  注2:老型號(hào)硬盤(pán)(2、3G以下)由于性能較低、速度較慢,因此在F4 SCAN檢測(cè)時(shí)很少出現(xiàn)第一個(gè)方塊,而出現(xiàn)第二和第三個(gè)方塊,甚至?xí)霈F(xiàn)第四個(gè)方塊(綠色方塊),這種情況是由于老硬盤(pán)讀寫(xiě)速度慢引起的,并不說(shuō)明那些扇區(qū)讀寫(xiě)異常。
  在掃描時(shí)使用箭頭鍵可以靈活地控制掃描的進(jìn)程,很象VCD播放機(jī):↑快進(jìn)2%;↓后退2%;←后退0.1%;→快進(jìn)0.1%。靈活運(yùn)用箭頭鍵,可以對(duì)不穩(wěn)定、壞道頑固的區(qū)段進(jìn)行反復(fù)掃描和修復(fù)。

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關(guān)鍵詞:硬盤(pán)檢測(cè),MHDD

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